Máy QIII SX™ – Máy phát hiện hạt bề mặt (5-125µm)

Máy QIII SX™

icon-lich.svg Tháng 2 5, 2025

Máy QIII SX™ – Máy phát hiện hạt bề mặt (5-125µm)

Nâng cao năng suất với công nghệ phát hiện hạt tiên tiến

Máy QIII SX™ của Pentagon Technologies là thiết bị phát hiện hạt bề mặt, được thiết kế để đo lường và kiểm soát ô nhiễm bề mặt trong các ngành công nghiệp công nghệ cao.

Các hạt nhỏ dưới 100µm rất khó nhìn thấy bằng mắt thường và thường không được phát hiện trong quá trình giám sát không khí thông thường. Những hạt này có thể lắng đọng nhanh và gây ô nhiễm bề mặt nghiêm trọng.

QIII SX™ cung cấp khả năng đo hạt trong phạm vi từ 5µm đến 125µm, bao gồm cả các hạt khó phát hiện trong phạm vi từ vô hình đến hữu hình. Với QIII SX™, doanh nghiệp có thể nhanh chóng xác định và loại bỏ các hạt gây ảnh hưởng, giúp giảm thiểu thời gian chết và nâng cao hiệu suất sản xuất.

Lợi ích nổi bật của QIII SX™

Đo lường hạt bề mặt tức thì – Kiểm tra độ sạch bề mặt theo thời gian thực.
Tăng tỷ lệ thành phẩm đạt chuẩn – Giảm thiểu hạt bụi, tối ưu hóa chất lượng sản phẩm.
Xử lý sự cố nhanh chóng – Xác định nguồn gốc hạt gây ô nhiễm, giảm thời gian gián đoạn sản xuất.
Kiểm soát mật độ hạt – Giám sát và thiết lập giới hạn cho hạt bề mặt trên vật liệu đầu vào và đầu ra.
Cải tiến liên tục – Xây dựng mức chuẩn sạch bề mặt để đảm bảo chất lượng sản xuất dài hạn.
Tuân thủ ISO 14644-9 – Đáp ứng tiêu chuẩn phân loại độ sạch bề mặt theo quy chuẩn quốc tế.
Tích hợp dữ liệu SPC – Hỗ trợ hệ thống kiểm soát quy trình thống kê (SPC).
Chế độ BKM – Đảm bảo độ chính xác và nhất quán trong các phép đo hạt.
Tùy chọn phân tích hạt – Thu thập và phân tích hạt với mô-đun phân tích hạt tùy chọn.
Tuân thủ 21 CFR Phần 11 – Phù hợp với ứng dụng khoa học đời sống, yêu cầu tuân thủ quy định dữ liệu.

Thông số kỹ thuật chi tiết

  • Dải nhạy cảm hạt: 5µm – 125µm
  • Kênh đo: 5, 10, 25, 50, 100, 125µm
  • Cảm biến: Diode Laser
  • Kích thước & Trọng lượng: 12” W × 10.5” D × 9” H, 18.5 lbs
  • Pin: (2) Lithium Ion, có thể thay nóng
  • Màn hình: Cảm ứng 7” WVGA, giao diện kín, hỗ trợ thu phóng
  • Đơn vị dữ liệu: Mật độ hạt và số lượng thô
  • Giao diện người dùng: Chế độ phân tích dữ liệu giúp tính trung bình các phép đo hạt bề mặt
  • Đầu ra dữ liệu: Cổng USB, Ethernet, tùy chọn WiFi
  • Đầu dò đi kèm: Đầu dò góc phải ½”
  • Tùy chọn làm sạch: Bộ lọc làm sạch để đặt lại số đếm về 0 & Chức năng làm sạch đầu dò
  • Chế độ tự làm sạch: Tăng 50% lưu lượng khí để loại bỏ hạt bám dính
  • Nguồn điện đầu vào: 100-240 VAC, 50/60 Hz
  • Chế độ lấy mẫu: Tĩnh & Động
  • Chứng nhận: CE Certified
  • Ngôn ngữ hỗ trợ: Tiếng Anh, Trung, Nhật, Hàn
  • Xuất xứ: Mỹ

Related products

Máy QIII ST™

Máy QIII ST™ – Máy phát hiện hạt bề mặt (0.1-5µm), tối ưu hóa năng suất với công nghệ phát hiện hạt tiên tiến

Máy QIII SM™

Máy QIII SM™ – Máy phát hiện hạt bề mặt 0.3-10µm, nâng cao năng suất với công nghệ tiên tiến

Sign Up To Get Latest Updates

Follow by Email
Facebook
LinkedIn

Template: single-product.php