Máy QIII SM™

Tháng 2 4, 2025

Máy QIII SM™ – Máy phát hiện hạt bề mặt 0.3-10µm

Nâng cao năng suất với công nghệ tiên tiến

Máy QIII SM™ là thiết bị phát hiện hạt bề mặt tiên tiến thuộc dòng sản phẩm của Pentagon Technologies, được thiết kế để đo lường và kiểm soát ô nhiễm bề mặt trong các ngành công nghiệp công nghệ cao.

Các hạt bụi tích tụ trên bề mặt quan trọng hoặc sản phẩm có thể làm giảm hiệu suất và độ tin cậy. Để đảm bảo hiệu quả tối ưu trong sản xuất yêu cầu độ sạch cao, cần có một thước đo chính xác cho mức độ ô nhiễm bề mặt.

Với công nghệ giao diện tiên tiến và được cấp bằng sáng chế, QIII SM™ giúp giải phóng hạt bám dính và dẫn chúng qua bộ phát hiện hạt. Nhờ đó, doanh nghiệp có thể nhanh chóng phát hiện và loại bỏ các hạt gây ảnh hưởng đến năng suất và chi phí vận hành.

Lợi ích vượt trội của QIII SM™

• Đo lường tức thì: Phát hiện hạt bề mặt ngay lập tức, giúp kiểm soát chất lượng hiệu quả.
• Cải thiện hiệu suất sản xuất: Giảm thiểu hạt bụi để tăng tỷ lệ thành phẩm đạt chuẩn.
• Giảm thời gian xử lý sự cố: Xác định nhanh chóng nguồn gốc hạt gây ô nhiễm.
• Giám sát mật độ hạt: Kiểm soát mức độ ô nhiễm trên vật liệu đầu vào và đầu ra.
• Hỗ trợ cải tiến liên tục: Xây dựng tiêu chuẩn sạch cho bề mặt để duy trì chất lượng.
• Tuân thủ tiêu chuẩn ISO 14644-9: Đảm bảo độ sạch theo quy chuẩn quốc tế.
• Tích hợp dữ liệu vào hệ thống SPC: Hỗ trợ phân tích và kiểm soát quy trình sản xuất.
• Chế độ BKM: Đảm bảo độ chính xác và nhất quán trong đo lường.
• Tùy chọn phân tích hạt: Thu thập và phân tích hạt để cải thiện chất lượng sản phẩm.
• Tuân thủ 21 CFR Phần 11: Phù hợp với ứng dụng trong ngành khoa học đời sống.

Thông số kỹ thuật chi tiết

• Dải nhạy cảm hạt: 0.3µm – 10µm
• Kênh đo: 0.3, 0.5, 1.0, 3.0, 5.0, 10.0µm
• Cảm biến: Diode Laser
• Kích thước & Trọng lượng: 12” W × 10.5” D × 9” H, 18.5 lbs
• Pin: (2) Lithium Ion, có thể thay nóng
• Màn hình: Cảm ứng 7” WVGA, giao diện kín, hỗ trợ thu phóng
• Đơn vị dữ liệu: Mật độ hạt và số lượng thô
• Giao diện người dùng: Chế độ phân tích dữ liệu giúp tính trung bình các phép đo hạt bề mặt
• Đầu ra dữ liệu: Cổng USB, Ethernet, tùy chọn WiFi
• Đầu dò đi kèm: Đầu dò góc phải ½”
• Tùy chọn làm sạch: Bộ lọc làm sạch để đặt lại số đếm về 0 và chức năng làm sạch đầu dò
• Chế độ tự làm sạch: Tăng 50% lưu lượng khí để loại bỏ hạt bám dính
• Nguồn điện đầu vào: 100-240 VAC, 50/60 Hz
• Chế độ lấy mẫu: Tĩnh và động
• Chứng nhận: CE
• Ngôn ngữ hỗ trợ: Tiếng Anh, Trung, Nhật, Hàn
• Xuất xứ: Mỹ

Tại sao nên chọn QIII SM™?

Với QIII SM™, doanh nghiệp có thể kiểm soát chất lượng bề mặt hiệu quả hơn, giảm thiểu rủi ro ô nhiễm và tăng năng suất sản xuất. Đây là lựa chọn lý tưởng cho các môi trường sản xuất yêu cầu độ sạch cao như bán dẫn, khoa học đời sống, và công nghiệp điện tử SMT.

Liên hệ ngay để biết thêm thông tin về QIII SM™ và giải pháp phát hiện hạt bề mặt!